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用于检验平板显示器的方法和设备

申请号: CN200310104291
申请日: 20031106
公开(公告)号: CN1548973A
公开(公告)日: 20041124
IPC分类号: G01R31/00;G01R31/02
主分类号: G01R31/00
申请(专利权)人: LG.菲利浦LCD株式会社
发明人: 金钟淡;李炫揆;赵容振;郑时和
优先权号: KR 10-2003-0028643
优先权日: 20070711
地区: 韩国;KR
申请人地址: 韩国汉城
代理人: 徐金国;祁建国
专利代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
一种新方法和设备用于检验液晶显示器。用于检 验平板显示装置的所述方法和设备是用磁传感器扫描至少一 条信号线并检测磁传感器的电阻变化,以感知信号线中的短 路。用其尺寸小于像素尺寸的多个传感器构成的传感器阵列检 测像素。

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