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用于增强的纳米-光谱扫描的方法和装置

申请号: CN200480008944
申请日: 20040405
公开(公告)号: CN1768253A
公开(公告)日: 20060503
IPC分类号: G01J3/44;G01N21/65
主分类号: G01J3/44
申请(专利权)人: VP控股有限公司
发明人: V·波波尼恩
优先权号: US 60/460,702
优先权日: 20090408
地区: 美国;US
申请人地址: 美国加利福尼亚州
代理人: 程伟
专利代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
本发明揭示了一种用于识别样品(82)中化学基团 的装置和方法。装置(35)包括:具备支撑样品(82)的等离子体振 子共振表面的基质(80)、光束源(10)、和包括尖端区域和由尖端 区域上的一个或更多个等离子体振子颗粒(PRP)组成的纳米透 镜的透镜组件(60)。将所述PRP安排在纳米透镜(62)和基质表 面(80)上的对抗探测区之间的空间内,当纳米透镜(62)和基质 (80)间的间隙为30nm或更小时产生近场电磁间隙模式。所述 装置中的聚焦机构用于移动所述透镜组件(60)朝向或离开所述 基质表面(80),而所述间隙小于30nm,从而产生用于增强拉曼 分光信号的电磁间隙模式,该信号由检测区域的样品(82)产生。

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